Les instruments de métrologie des surfaces AltiSurf© conjuguent l'approche métrologique et la microscopie optique dans une cartographie 3D, via la prise de profils successifs effectués par le scanning d'un point de mesure confocal chromatique ou d'un stylet à faible force d'appui.

Dérivée de la notion de rugosité bien connue des mécaniciens, la connaissance approfondie des vallées et pics de la surface étudiée autorise les chercheurs et ingénieurs à établir des diagnostics de qualité, de fonctionnalité, d'esthétique de leur produit ou de leur matériau avec une nouvelle approche métrologique.

Celle-ci intègre de nouveaux paramètres de rugosité surfaciques qui établissent actuellement via les travaux des commissions de normalisation la nouvelle norme de mesure ISO 25 178 au sein de l'ISO International.